NanoSwing – nowatorski tryb pomiarowy AFM w obrazowaniu właściwości mechanicznych oraz interakcji ostrze-próbka
Dnia 14 czerwca 2011 odwiedził nas Łukasz Bednarz – były członek SSN SPENT i absolwent Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (rocznik 2010). Tematem przewodnim spotkania był nowy tryb pomiarowy mikroskopu sił atomowych, zwany NanoSwingiem, wykorzystywany w badaniach prowadzonych w zespole dr. inż. Andrzeja Sikory w Instytucie Elektrotechniki (IEL) we Wrocławiu.
Łukasz wtajemniczył nas w sposoby obrazowania właściwości mechanicznych powierzchni oraz interakcji ostrze-próbka. Materiały, które można w ten sposób badać to zarówno fulereny, ciekłe kryształy, jak i preparaty biologiczne takie jak tkanki gładkie.
Wykorzystywane w tym trybie pomiarowym belki typu THC (ang. Torsional Harmonic Cantilever) są w stanie w doskonały sposób zobrazować różnice mechaniczne materiałów tworzących badaną próbkę. Ich cechą charakterystyczną jest ostrze przesunięte w bok w stosunku do symetralnej wzdłużnej belki – w stronę jej krawędzi.
Po prezentacji każdy uczestnik spotkania mógł zadać nurtujące go pytanie. Poruszone zagadnienia dotyczyły pochodzenia materiałów wykorzystywanych w Instytucie Elektrotechniki oraz cen wyposażenia typowego stanowiska pomiarowego. Spotkanie zakończono gorącymi brawami dla prelegenta oraz poczęstunkiem 🙂
Zdjęcia z 75. SPENT-u są już dostępne w naszej galerii.