W sierpniu 2012 roku gościliśmy w naszych progach dr Annę Topol, dyrektor ds. technologii energetycznych i użytkowych IBM Corporation – tutaj program spotkania. Zachęceni powodzeniem zeszłorocznego seminarium, również w tym roku zorganizowaliśmy podobne. Tym razem uczestniczyli w nim również dr Mariusz Ochla i dr Jerzy Kotowski z Centrum Naukowego Technik Informacyjnych i Komunikacyjnych PWr oraz dziekan Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr, prof. Andrzej Dziedzic. Studenci i doktoranci ze SPENT-u w towarzystwie pracowników Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur WEMiF PWr wygłosili następujące referaty:
- Grzegorz Jóźwiak,
„Metrologia ostrza mikroskopu ze skanującą sondą oraz chemiczno-mechaniczna analiza powierzchni”; - Grzegorz Wielgoszewski,
„Zagadnienia kalibracji w badaniach właściwości cieplnych mikro- i nanostruktur za pomocą skaningowej mikroskopii termicznej”; - Magdalena Moczała,
„Badania i właściwości aktuowanych termicznie i elektromagnetycznie struktur NEMS FoMaMet”; - Tomasz Piasecki,
„Metody elektryczne w metrologii mikro- i nanostruktur”; - Krzysztof Gajewski,
„Wytwarzanie i charakteryzacja rezonatorów grafenowych”; - Maciej Rudek,
„Badania struktur mikro- i nanoelektronicznych metodami NANOHEAT”; - Karolina Orłowska,
„Badania układów MEMS i NEMS za pomocą technik światłowodowych”.
Między ciekawymi dyskusjami znaleźliśmy czas na przerwę na kawę i pyszne muffinki, a po wszystkich referatach kontynuowaliśmy rozmowy podczas obiadu. Oczywiście – niecierpliwie czekamy na kolejne spotkanie. Może nawet szybciej niż za rok?
Informacja o seminarium ukazała się również w „Pryzmacie”: Seminarium z przedstawicielką IBM.