W ostatni wtorek odwiedziła nas dr Anna Topol z IBM Thomas J. Watson Research Center w Yorktown Heights (USA). Treść sesji bogata była w prezentacje materiałów studentów i doktorantów naszego Koła, a nad całością wydarzenia czuwali profesorowie Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur. W trakcie sesji Q&A trwały ogniste bitwy na argumenty, a uczestnicy jak zwykle bardziej zainteresowani byli bardziej mikro- i nanotechnologią niż posiłkiem!
Tutaj można zobaczyć najświeższe zdjęcia z sesji.
Spotkanie miało następujący przebieg:
| 10:00 | Teodor Gotszalk | Otwarcie |
| Sesja 1 – prowadzenie: prof. dr hab. inż. Karol Nitsch | ||
| 10:05-10:25 | Magdalena Moczała | Badania ogniw fotowoltaicznych metodami mikroskopii bliskich oddziaływań |
| 10:25-10:45 | Krzysztof Gajewski | Pomiary elektrycznych właściwości warstw grafenowych |
| 10:45-11:05 | Daniel Kopiec | Precyzyjne pomiary właściwości elektrycznych nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań |
| 11:05-11:30 | Przerwa | |
| Sesja 2 – prowadzenie: dr inż. Jacek Radojewski | ||
| 11:30-11:50 | Grzegorz Wielgoszewski | Badania właściwości termicznych metodami mikroskopii bliskiego pola termicznego |
| 11:50-12:10 | Grzegorz Małozięć | Układ pomiarowy dla pomiaru charakterystyk czujników nanomechanicznych |
| 12:10-12:30 | Karolina Orłowska | Pomiary struktur elektroniki elastycznej |
| 12:30-12:50 | Michał Świątkowski | Pomiary dużych obiektów metodami mikroskopii sił atomowych |
| 12:50-12:55 | Konrad Nieradka | Platformy czujników mikromechanicznych |
| Anna Topol | Podsumowanie | |
| 13:00 | Lunch | |