Po sukcesie naszego udziału w IV Seminarium „Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań” STM/AFM 2006, podczas którego wyniki badań zaprezentowało kilkanaścioro SPENT-owiczów, wybraliśmy się do Zakopanego ponownie. V Seminarium STM/AFM 2008 odbyło się w dniach 26-30 listopada 2008. Podczas seminarium członkowie SSN SPENT wygłosili 2 referaty i zaprezentowali 8 plakatów:
- Mirosław Woszczyna, „Zastosowanie mikromechanicznej dźwigni krzemowej ze zintegrowanym aktuatorem wychylenia i detektorem ugięcia w wielorezonansowej mikroskopii sił ścinających”
- Paweł Zawierucha, „Zastosowanie matryc dźwigni sprężystych do pomiaru topografii powierzchni”
- Agata Masalska i in., „Badania technologii osadzania i właściwości bioreceptorów na bazie silanów metodą mikroskopii sił atomowych i spektroskopii w podczerwieni”
- Michał Grabarczyk i in., „Kontroler elektrochemicznego procesu wytwarzania ostrzy wolframowych na potrzeby mikroskopii bliskich oddziaływań”
- Grzegorz Gruca i in., „Wykorzystanie mikrodźwigni sprężystych w roli biosensorów”
- Michał Świątkowski i in., „Właściwości oraz zastosowanie mikrobelek polimerowych”
- Grzegorz Wielgoszewski i in., „Mikroskopia odpowiedzi piezoelektrycznej w badaniach właściwości cienkich warstw tytanianu baru”
- Tomasz Wojciechowski i in., „Analiza chropowatości powierzchni przy użyciu programu Topograf”
- Michał Zielony i in., „Uniwersalny sterownik mikroskopu sił atomowych zbudowany na bazie procesora sygnałowego z rodziny TigerSHARC”